阿贝折射仪的半影视场形成的主要原因是 光的干涉现象。当光线通过阿贝折射仪的检测器（例如参考光镜、样品架等）时，由于检测器由两部分组成，导致一部分光线比另一部分晚到达，从而产生了干涉现象。这种干涉现象会在视场中形成一条黑暗或明亮的线，将视场分成两个半影视场。这条分界线也被称为“半影线”。

具体来说，半影视场的形成与样品的折射率无关，而是与光学仪器的结构有关。实验者需要调整角度或仪器的焦距等参数，使得半影视场的干涉线在样品区域最小，以提高测量的准确性。

总结起来，阿贝折射仪中的半影视场是由于光线在通过检测器时发生干涉所致，这种干涉现象与光学仪器的结构相关，而与样品的折射率无关。为了获得更准确的测量结果，需要调整仪器参数以最小化半影视场的干涉线影响。