常规的粒度分析方法主要包括以下几种：

筛分法

原理：通过使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度。

优点：简单、直观、设备造价低，常用于大于40μm的样品。

缺点：不能用于40μm以下的样品，结果受人为因素和筛孔变形影响较大。

沉降法（重力沉降法和离心沉降法）

原理：根据颗粒在液体中的沉降速度不同来测量粒度分布。

优点：操作简便，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较大。

缺点：测试时间较长。

电阻法（库尔特颗粒计数器）

原理：根据颗粒通过一个小微孔时排开导电液体，使小微孔两端电阻发生变化来测试粒度分布。

优点：操作简便，可测颗粒总数，等效概念明确，速度快，准确性好。

缺点：测试范围较小，小孔容易被颗粒堵塞，介质应具备严格的导电特性。

显微镜法（图像法）

原理：通过显微镜观察颗粒的形貌和大小。

优点：简单、直观，可进行形貌分析。

缺点：速度慢，代表性差，无法测超细颗粒。

电镜法（扫描电子显微镜SEM和透射电子显微镜TEM）

原理：利用电子显微镜的高分辨率来观察和测量颗粒的粒度。

优点：适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒，分辨率高。

缺点：样品少，代表性差，仪器价格昂贵。

超声波法

原理：利用超声波在颗粒中的散射和衍射现象来测量粒度。

优点：可对高浓度浆料直接测量。

缺点：具体原理和应用细节较少见。

透气法

原理：利用气体通过粉体样品时的透气性来测量粒度。

优点：仪器价格低，不用对样品进行分散，可测磁性材料粉体。

缺点：具体原理和应用细节较少见。

激光衍射法

原理：利用激光照射到颗粒后产生的衍射或散射现象来测量粒度分布。

优点：操作简便，测试速度快，测试范围大，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。

缺点：具体原理和应用细节较少见。

这些方法各有优缺点，适用于不同范围和需求的粒度分析。选择合适的方法需要根据样品的特性、测试要求和实验条件来决定。